電子元件失效分析的目地是依靠各種各樣檢測剖析技術(shù)性和分析程序確定電子元件的無效狀況，辨別其失效模式和無效原理，明確其最后無效的緣故，明確提出改善設(shè)計方案和生產(chǎn)制造加工工藝的提議，避免無效的反復(fù)出現(xiàn)，提升電子器件可信性。失效分析是商品可靠性工程的一個關(guān)鍵構(gòu)成部分。失效分析被廣泛運用于明確研發(fā)加工過程中生產(chǎn)制造難題的緣故，辨別檢測全過程中與可信性有關(guān)的無效，確定應(yīng)用全過程中的當(dāng)場無效原理。

　　在電子元件的研發(fā)環(huán)節(jié)，失效分析可糾正設(shè)計方案和研發(fā)中的不正確，減少研發(fā)周期時間;在電子元件的生產(chǎn)制造、檢測和應(yīng)用環(huán)節(jié)，失效分析可找到電子元件的無效緣故和造成電子元件無效的義務(wù)方。依據(jù)失效分析的結(jié)果，電子器件生產(chǎn)廠家改善電子器件的設(shè)計方案和生產(chǎn)工藝流程，電子器件應(yīng)用方改善電路板設(shè)計，改善電子器件或整個設(shè)備的檢測、實驗標(biāo)準(zhǔn)及程序流程，乃至為此為依據(jù)拆換不過關(guān)的電子器件供應(yīng)商。因此，失效分析對加速電子元件的研發(fā)速率，提升電子器件和整個設(shè)備的產(chǎn)出率和可信性有關(guān)鍵實際意義。

　　電子器件失效分析機構(gòu)對生產(chǎn)制造和應(yīng)用都具備關(guān)鍵的實際意義，電子器件的無效將會產(chǎn)生在其使用壽命周期時間的每個環(huán)節(jié)，產(chǎn)生在商品研發(fā)環(huán)節(jié)、生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)到應(yīng)用環(huán)節(jié)的重要環(huán)節(jié)，根據(jù)分析加工工藝廢殘品、初期無效、實驗無效及其當(dāng)場無效的無效商品確立失效模式、剖析無效原理，最后找到無效緣故。因而電子器件的應(yīng)用放在電子器件的挑選、整個設(shè)備方案等層面，電子器件生產(chǎn)制造方在商品可信性設(shè)計方案全過程，都務(wù)必參照失效分析的結(jié)果。根據(jù)失效分析，可辨別失效模式，搞清無效原理，明確提出整改措施，并意見反饋到應(yīng)用、生產(chǎn)制造中，將提升電子器件和機器設(shè)備的可信性。